Әлемдік нарықтарды тереңірек түсінгіңіз келсе, ірі қор индекстеріне арналған кешенді талдауларымызбен танысыңыз. Біз US 500 (АҚШ-тың ең ірі 500 компаниясының индексі), DE 40 (Германияның жетекші индексі), US Tech (АҚШ-тың жетекші технологиялық компанияларының индексі), US 30 (АҚШ-тың 30 ірі өнеркәсіптік компаниясының индексі) және JP 225 (Жапонияның 225 танымал компаниясының индексі) сияқты негізгі индекстерді қамтимыз. Терең техникалық талдауымыз нарық үрдістерін қалыптастыратын факторларды ашып көрсетіп, индекс бағасының қозғалысын болжай отырып, нарықтың жан-жақты көрінісін ұсынады.
Сарапшыларымыз диаграммаларға негізделген нақты талдаулар мен нарыққа болжам жасап, сізге индекс нарығындағы трендтерді өз бетіңізше талдауға және болжауға қажетті құралдарды ұсынады. Қысқа мерзімді трейдер болсаңыз да, орта мерзімді инвестор немесе ұзақ мерзімді стратег болсаңыз да, біздің индекс болжамдарымыз нарық туралы біліміңізді тереңдетіп, сауда стратегияңызды жетілдіруге көмектеседі.
26.02.2026
JP 225 қор индексі қарсылық деңгейінен жоғары бұзылып, тағы да жаңа тарихи максимумға жетті. Бүгінгі JP 225 болжамы — оң.
25.02.2026
US 30 индексінде баға қолдау деңгейін сынап жатыр және оны төмен бұзып өтуі мүмкін, бұл төмендеу трендінің басталуын білдіреді. Бүгінгі US 30 болжамы — теріс.
24.02.2026
US 500 индексі бүйірлік тренд аясында саудалануды жалғастыруда. Бүгінгі US 500 болжамы — теріс.
20.02.2026
US Tech индексі бүйірлік арнада саудалануда, ал төмендеу тренді басым болып отыр. Келесі аптаға арналған US Tech болжамы — теріс.
19.02.2026
JP 225 қор индексі жаңа тарихи максимумға жеткеннен кейін түзетуді аяқтап, қайтадан өсуге дайын. Бүгінгі JP 225 болжамы — оң.
18.02.2026
US 30 индексі тарихи ең жоғары деңгейіне жеткеннен кейін түзету кезеңінен өтуде. Бүгінгі US 30 болжамы – оң.
17.02.2026
US 500 қолдау деңгейін тестілеп, бүйірлік арнаға өтті, дегенмен төмендеу тренді әлі де басым. Бүгінгі US 500 болжамы – теріс.
16.02.2026
DE 40 қор индексі төмендеу трендін өзгерте алмады және бүйірлік арнаға өтті. Бүгінгі DE 40 болжамы – оң.
